TP4056涓流轉(zhuǎn)恒流及高溫工作測試報告

測試日期：2008-4-8

芯片名稱：TP4056

測試板：本公司TP4056演示板

測試環(huán)境：溫度20℃

測試目的：檢測芯片在涓流轉(zhuǎn)恒流及極限熱耗散情況下（高溫工作）的可靠性

測試條件：

電源電壓：7.0V

充電設(shè)置電流：1.2A

          充電電池起始充電電壓：2.5V  

 

芯片編號	涓流轉(zhuǎn)恒流功能	大電流充電電流	充電時間	是否合格
1號片	正常	320mA	30分鐘	合格
2號片	正常	306mA	30分鐘	合格
3號片	正常	310mA	30分鐘	合格
4號片	正常	314mA	30分鐘	合格
5號片	正常	317mA	30分鐘	合格
6號片	正常	311mA	30分鐘	合格
7號片	正常	325mA	30分鐘	合格
8號片	正常	312mA	30分鐘	合格
9號片	正常	309mA	30分鐘	合格
10號片	正常	301mA	30分鐘	合格

 

測試結(jié)果說明：TP4056經(jīng)過涓流，恒流，恒壓三個充電階段， 芯片在2.9V左右進入恒流狀態(tài)。

　　　　　　　恒流設(shè)置為1.2A，由于電源電壓設(shè)置7V，芯片受熱影響自適應(yīng)而減小充電電流。（減小電源電壓至5V左右則可得到大充電電流）

　　　　　　　可計算芯片上實際功率為芯片通過的電流×芯片電源端與電池端的壓差約為3V即300mA×3V=0.9W 。約為此封裝的熱耗散功率。

 測試項目：設(shè)置1A完整充電情況

測試條件：電源電壓5V.　電池容量2400mA　　

電池電壓	充電電流	電池電壓	充電電流	電池電壓	充電電流	電池電壓	充電電流
2.0V	120mA	3.2V	915 mA	3.9V	1024 mA	4.125V	573 mA
2.2V	120 mA	3.5V	973 mA	4.0V	1000 mA	4.15V	410 mA
2.5V	120 mA	3.6V	978 mA	4.05V	940 mA	4.17V	245 mA
2.7V	120 mA	3.7V	1053 mA	4.075V	910 mA	4.18V	165 mA
2.9V	924 mA	3.8V	1078 mA	4.1V	725 mA	4.185V	117 mA

 測試結(jié)果說明：完整的充電電流控制。涓流、恒流、恒壓各段充電電流正常?？梢暂敵龀^1A的大電流。

測試項目：1.2A恒流2小時測試

測試條件：電源電壓5V。

測試結(jié)果：

編號	恒流電流	時間	可靠性
1號片	1.205A	2小時	合格
2號片	1.211A	2小時	合格
3號片	1.206A	2小時	合格
4號片	1.208A	2小時	合格

 如客戶在測試中芯片充電電流過小，請注意以下幾點：

一， 大電流測試中電池電壓不應(yīng)超過4.05V,當(dāng)電池電壓高于4.05V左右后，電流將逐漸減小，進入恒壓充電階段。

二， 在測試中，若需要監(jiān)測充電電流，請將電流表串聯(lián)在電源端。不可串聯(lián)在電池端。電流表內(nèi)阻對測試有干擾。

三， 我司測試中電源電壓為5.028V，即電路板紅線連接至電源的電壓。若電源電壓為5.2V以上，則由于芯片功率耗散的影響而減小充電電流。

請注意監(jiān)測電源的實際電壓。

  

測試結(jié)論：涓流恒流轉(zhuǎn)換功能正常，芯片在極限熱耗散的高溫情況下工作正常。芯片熱限制自適應(yīng)減小電流功能正常。大電流持續(xù)工作可靠性良好。

　　　　　在充電過程中，設(shè)置大電流充電。電源在5V-8V范圍開關(guān)上電可靠性良好。